• Zeta電位測(cè)試

• 粒度分布測(cè)試

• 分子量測(cè)試 

三、主要應(yīng)用領(lǐng)域

        包括納米金屬氧化物、水處理、納米金屬粉、納米陶瓷材料、蛋白質(zhì)、聚合物膠乳、藥物制備、水/ 油乳液 、油漆、涂料、顏料 、油墨、調(diào)色劑 、化妝品以及其它所有納米材料研究、納米材料制備與納米材料應(yīng)用等領(lǐng)域。

四、突出特點(diǎn)

• BT-Zeta100電位測(cè)量采用電泳光散射（ELS）原理，通過(guò)測(cè)量顆粒在電場(chǎng)中的運(yùn)動(dòng)速度進(jìn)而得到zeta電位。一般來(lái)說(shuō)，zeta電位越高，顆粒之間相互排斥越劇烈，分散體系越穩(wěn)定。
• 納米粒度分布測(cè)量采用動(dòng)態(tài)光散射（DLS）原理，顆粒在懸浮液中進(jìn)行布朗運(yùn)動(dòng)，較小顆粒的移動(dòng)速度快于較大顆粒，在某個(gè)角度檢測(cè)記錄散射光強(qiáng)，散射光強(qiáng)的相關(guān)曲線(xiàn)體現(xiàn)了顆粒的移動(dòng)速度，利用這些信息可以計(jì)算顆粒的粒度分布。
• 分子量測(cè)量采用靜態(tài)光散射（SLS）原理，散射光的強(qiáng)度與分子量直接相關(guān)。測(cè)量不同濃度中測(cè)量散射光強(qiáng)，繪制德拜曲線(xiàn)即可得到樣品分子量。

五、良好的重復(fù)性

• 穩(wěn)定的折疊光路系統(tǒng)
• 高速數(shù)據(jù)采集與轉(zhuǎn)換模塊
• 高精度樣品池定位組件

六、良好的準(zhǔn)確性

• 粒度測(cè)試準(zhǔn)確性：用100nm 標(biāo)準(zhǔn)樣品測(cè)試，結(jié)果為101nm，誤差范圍為1%，遠(yuǎn)遠(yuǎn)小于標(biāo)準(zhǔn)ISO13321 允許誤差10% 的要求。

• Zeta 電位測(cè)試準(zhǔn)確性：用-55mv 標(biāo)準(zhǔn)樣品測(cè)試，結(jié)果為-59.7994mv，誤差范圍為8.7%，小于標(biāo)準(zhǔn)ISO13099 允許誤差10% 的要求。

• 分子量測(cè)試